离子径迹电光学性质的THz光谱测量研究-东篱科研大数据发现系统（DRDS）

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离子径迹电光学性质的THz光谱测量研究

项目名称：离子径迹电光学性质的THz光谱测量研究
项目类别：面上项目
批准号：10675157
申请代码：A050401
项目来源：国家自然科学基金
研究期限：2007-01-01-2009-12-31

项目负责人：朱智勇
负责人职称：研究员
依托单位：中国科学院上海应用物理研究所
批准年度：2006

中文摘要：

利用太赫兹（THz）光谱技术，研究离子辐照材料在此频段的色散关系，探讨离子径迹的结构、取向和分布对测量结果的影响，并利用有效介质理论分析提取离子径迹区域物质的电光学性质。具体有（1）探测荷能质子束、氦离子束和重离子束（Ar、Xe离子）辐照有机材料（几种聚合物）和无机材料（Si、SiO2、Al2O3）的THz光谱，研究它们与辐照剂量和电子能损之间的关系，探讨离子径迹结构与分布对THz光谱参数的影响；（2）利用有效介质理论，并借助于电子显微镜技术、红外紫外光谱技术以及电化学蚀刻技术，分析辐照材料THz光谱并提取离子径迹区域物质的电学和光学性质，研究这些性质与离子种类、材料结构和电子能损之间的关系。成果将对利用辐照技术研制微电光器件以及THz光谱技术所需材料提供数据和依据。

中文主题词：离子束、THz光谱、离子径迹、结构和性质

结论摘要：

英文主题词ion beam; THz spectra; ion track; structure and property

成果综合统计