位置：立项数据库 > 立项详情页
　可同时测量单个纳米颗粒尺寸与折射率的快速成像检测方法
  • 项目名称：　可同时测量单个纳米颗粒尺寸与折射率的快速成像检测方法
  • 批准号：4162069
  • 项目来源：2016年度北京市自然科学基金项目
  • 研究期限：2016-01-
  • 项目负责人：路鑫超
  • 依托单位：中国科学院微电子研究所
  • 批准年度：2016
路鑫超的项目
应用表面等离激元控制太赫兹偏振态
期刊论文 5 会议论文 1