位置：立项数据库 > 立项详情页
基于老化特征的集成电路失效预测与防护
  • 项目名称：基于老化特征的集成电路失效预测与防护
  • 项目类别：面上项目
  • 批准号：61274036
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：梁华国
  • 依托单位：合肥工业大学
  • 批准年度：2012
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 41
  • 0
  • 0
  • 0
  • 0
期刊论文
缓解异构MPSoC电迁移效应的任务调度算法
基于环形振荡器的绑定前硅通孔测试
簇式三维片上网络通信压力弱化策略
一种基于二分查找的电路选择性加固方案
基于虚通道故障粒度划分的3D NoC容错路由器设计
面向非全互连3D NoC可靠通信的分布式路由算法
三维片上网络TSV复用容错策略
3D NoC的冗余双向TSV容错设计
三维片上网络故障及拥塞感知的容错路由器设计
NoC架构下异构IP核的并行测试方法
基于动态优先级的3D NoC偏转路由容错方法
基于时序优先的电路容错混合加固方案
时序敏感的容软错误电路选择性加固方案
基于折叠计算的多扫描链BIST方案
基于时-空冗余的集成电路老化失效防护方法
一种新颖高效抗SEU/SET锁存器设计
协同缓解PBTI和HCI老化效应的输入重排方法
考虑扇出重汇聚效应的组合电路软错误率评估
机载氧气监控器自动化测试系统
基于电荷俘获-释放机制的电路PBTI老化建模
一种用于嵌入式软核的动态可重构容错方案
一种针对门替换的电路老化关键门识别方法
容忍单粒子多节点翻转的三模互锁加固锁存器
A low-leakage and NBTI-mitigated N-type domino logic
选择序列的并行折叠计数器
并行折叠计数器状态向量选择生成
NoC中相邻虚通道循环共享的VOQ容错路由器设计
考虑NBTI效应的组合电路软错误率计算方法
NoC中基于路径树的无冲突测试调度方法
3DNoC中故障感知的RVOQ容错架构设计
协同输入向量控制与门替换技术缓解电路NBTI老化
65nm工艺下单粒子加固锁存器设计
双硅通孔在线容错方案
考虑单粒子多瞬态故障的数字电路失效概率评估
考虑预采样的时序错误检测与自恢复方法
NoC中基于路径多样性的交叉开关细粒度容错设计
考虑工艺偏差的容软错误锁存器设计
一种基于FPGA的微处理器软错误敏感性分析方法
应用输入向量约束的门替换方法缓解电路老化
AN IMPROVED AGING-PREDICT SCHEME BASED ON SYMMETRICAL NOR GATE
一种故障通道隔离的低开销容错路由器设计
梁华国的项目
系统芯片SoC外建自测试方法研究
期刊论文 46 会议论文 10
控制器的内建自恢复与内建自测试研究
期刊论文 85 会议论文 26 获奖 2 专利 5
基于TSV测试与容错的3D芯片良率提升方法研究
期刊论文 4
系统芯片SoC内建式自测试的研究与开发
期刊论文 3