中文摘要：

体积排除色谱被广泛用来表征拓扑结构高分子的分子量分布以及支化参数，但通常认为其表征结果只能用作定性分析。这一局限虽然可以通过比如联用激光小角散射光度计的方法得以突破，但按照其体积排除分离机理，当试样中存在拓扑结构不同但尺寸相当的高分子时，色谱峰会发生重叠，即便采用多检测器联用技术也只能获得平均信息。本项目基于申请人现有的研究结果，结合或可代表现阶段最新发展水平的对体积排除色谱分离的计算/模拟方法，拟通过理论计算/模拟来预测在表征拓扑结构高分子时色谱峰发生重叠的情况，并探索计算/模拟在描述以致预测拓扑结构高分子的淋出曲线方面的应用。本项目以研究环形和梳形拓扑结构为主，采用更接近实验条件的高分子真实链模型，重点考察体积排除效应对预测结果准确性的提高。鉴于体积排除色谱在表征拓扑结构高分子中所扮演的重要角色，该工作不但具有重要的基础研究价值，而且在对拓扑结构的更精确表征方面有潜在的应用价值。