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不同衬底上InGaAs探测材料中位错行为与器件性能关联研究
项目名称:不同衬底上InGaAs探测材料中位错行为与器件性能关联研究
项目类别:青年科学基金项目
批准号:61405232
项目来源:国家自然科学基金
研究期限:1900-01-01-1900-01-01
项目负责人:陈星佑
依托单位:中国科学院上海微系统与信息技术研究所
批准年度:2014
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FTIR测量的量子型光电探测器响应光谱校正
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