中文摘要：

申请者提出紧缩场特征谱的概念，又分为角域谱和时域谱，认为二者分别是空域场和频域场在角域和时域的变换,载有紧缩场特征信息。基于紧缩场的谱，可以将天线测量方向图表示为其真实方向图与紧缩场角域谱的卷积，RCS测量方向图表示为其真实方向图与紧缩场角域谱自卷积的卷积，从而建立天线和RCS测量误差分析的统一数学模型。在此模型基础上，与先进的数字信号处理技术结合，对紧缩场反射面边缘处理、拼缝效应、面板精度、口径/目标尺寸比等因素对天线和RCS测量的影响进行深入分析和研究。一方面，本项目研究是对紧缩场电设计理论的进一步补充和深化，其成果将对紧缩场电设计具有深刻指导意义；另一方面，本项目也是紧缩场后续应用中必须面对和解决的课题。通过本项目研究，将回答紧缩场用户最关心的场测量精度及误差修正问题。用户可以根据本项目研究结论，选择适合自己应用的紧缩场类型，并在实际中正确地使用紧缩场。