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先进电子显微学方法及其在半导体异质结构中的应用
项目名称:先进电子显微学方法及其在半导体异质结构中的应用
项目类别:面上项目
批准号:11474329
项目来源:国家自然科学基金
研究期限:1900-01-01-1900-01-01
项目负责人:王玉梅
依托单位:中国科学院物理研究所
批准年度:2014
成果综合统计
成果类型
数量
期刊论文
会议论文
专利
获奖
著作
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期刊论文
3C-SiC薄膜小角晶界附近位错核心的原子组态研究
王玉梅的项目
铁基等新型超导材料的晶体结构与缺陷研究
期刊论文 5
会议论文 3