项目有关折叠型腔衰荡光谱系统中纹波效应机理的研究,涉及到超低损耗高反膜应用中一些重要基础性理论问题的分析,且有望探索出一种新型的高反膜特殊损耗项测量方法,因此具有重要的理论和现实意义。所谓纹波效应是指,随着激光波长的扫描,利用腔衰荡技术测得的折叠腔损耗值出现周期性波动的一种特殊现象。项目从探究该效应产生机理的角度出发,主要研究内容包括(1)基于矩阵算法和等效膜层概念,深入分析各种误差因素对高反膜各损耗项光谱特性的影响;(2)基于光的干涉原理及光散射的标量、矢量场理论,系统研究不同状态下高反膜内外光波场的分布特点及变化规律。研究目标是(1)建立起普适性的高反膜损耗光谱特征分析模型,为高反膜的镀制和应用提供指导;(2)了解不同状态下高反膜内外的光波场特点及变化规律,掌握由此导致的高反膜损耗光谱变化情况;(3)基于纹波效应探索一种新型的高反膜特殊损耗项测量方法,为其性能的标定提供一种新方法。
英文主题词Cavity ring-down;High reflectivity coating;Ripple effect;Optical feedback;Interference effect