位置：立项数据库 > 立项详情页
IGBT芯片疲劳失效机理及其健康状态监测方法研究
  • 项目名称：IGBT芯片疲劳失效机理及其健康状态监测方法研究
  • 项目类别：青年科学基金项目
  • 批准号：51507185
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：刘宾礼
  • 依托单位：中国人民解放军海军工程大学
  • 批准年度：2015
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 5
  • 0
  • 0
  • 0
  • 0
期刊论文
中频逆变器2自由度稳健控制器设计
基于电压对电流变化率的IGBT结温变化机理及监测方法
沟槽栅场终止型IGBT瞬态数学模型
基于传热动力学作用特征的IGBT结温预测数学模型
基于集电极漏电流的IGBT健康状态监测方法研究
刘宾礼的项目