高电荷态离子激发态能级寿命的研究对多体问题的研究、原子结构理论的研究、对天体物理及聚变等离子体的研究、以及X射线激光的研究有重要意义。用基于电子束离子阱(EBIT)的实验手段可以研究在10ns到10ms之间的能级寿命,以及短于1fs的能级寿命。正好与基于加速器的束箔方法互补,束箔方法适用于0.01-100ns之间的能级寿命研究。 在EBIT方法能够覆盖的能级寿命范围,大部分涉及禁戒跃迁相关联的亚稳态能级,它们对等离子体的诊断以及X射线激光的研究尤其重要。本项目在上海EBIT上建立了高电荷态离子飞秒量级寿命测量的方法。
英文主题词EBIT;highly charged ion;lifetime measurement; forbidden transition; MCDF