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半导体量子点中的热自旋及纠缠效应
国际标准书号:978-7-111-48816-3
所属机构名称:内蒙古科技大学
时间:2015.3.31
成果类型:著作
出版社:机械工业出版社
相关项目:多量子比特纠缠中的热自旋效应
作者:
刘佳|
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