位置：成果数据库 > 著作 > 著作详情页
数字集成电路测试优化
  • 所属机构名称：中国科学院计算技术研究所
  • 成果类型：著作
  • 出版社：:科学出版社
  • 相关项目：大规模多核系统芯片测试压缩方法研究
作者： 李晓维|韩银和|李佳|胡瑜|
同著作项目
大规模多核系统芯片测试压缩方法研究
期刊论文 9 会议论文 3 专利 2 著作 1
同项目著作