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X射线荧光分析系统技术原理和应用
  • 所属机构名称：成都理工大学
  • 成果类型：著作
  • 出版社：目前该著作已初步完成文稿，预计将于2013年出版
  • 相关项目：EDXRF多元素能谱库MC模拟与无标样分析技术研究
作者： 庹先国等|
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