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La0.7 Sr0.3MnO3 外延膜缺陷性质的慢正电子束研究
  • 所属机构名称：中国科学技术大学
  • 成果类型：著作
  • 出版社：低温物理学报 V26(2) 2004 p95-100
  • 语言：中文
  • 相关项目：化合物半导体SiC的缺陷性质研究及慢正电子束装置改进
作者： 金绍伟|顾伟伟|周先意|吴文彬|翁惠民|朱长飞|叶邦角|韩荣典|
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