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基于嵌入式结构的便携式磁记忆检测仪
  • 所属机构名称：北京理工大学
  • 成果类型：著作
  • 出版社：仪表技术与传感器,2005年5期,11～15
  • 语言：中文
  • 相关项目：基于磁记忆效应的金属零部件微缺陷检测理论和方法
作者： 高玄怡|刘俊|李燕民等|
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