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Measurement of photoelectron behavior in K4Ru(CN)6 doped AgCl emulsion
所属机构名称:河北大学
会议名称:SPIE国际会议口头报告, 2004,北京 vol.5638: 688
语言:英文
成果类型:会议
相关项目:浅电子陷阱掺杂剂对光电子衰减过程的影响
作者:
傅广生|刘荣娟|杨少鹏|江晓利|代秀红|李晓苇|
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