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Fabrication and degradation characteristic of sputtered iridium oxide neural microelectrodes for FES
  • 所属机构名称：上海交通大学
  • 会议名称：27th IEEE International Conference on Micro Electro Mechanical Systems, MEMS 2014
  • 时间：2014
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：面向瘫痪恢复的柔性可植入人工神经系统跨尺度制造关键问题研究
作者： Kang X.-Y.|Liu J.-Q.|Tian H.-C.|Du J.-C.|Yang B.|Zhu H.-Y.|Nuli Y.|Yang C.-S.|
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