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Effect of oxide layer on Al-induced crystallization of amorphous Si 1-xGex thin films
  • 所属机构名称：西安交通大学
  • 会议名称：2010 3rd International Nanoelectronics Conference, INEC 2010
  • 成果类型：会议
  • 会场：Hongkong, China
  • 相关项目：超薄超细晶体材料的尺寸效应及其能量学研究
作者： Zhang, Tianwei|Xu, Kewei|Ma, Fei|
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