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Experimental research on the damage effect of HPM on semiconductor bipolar transistor
  • 所属机构名称：西安电子科技大学
  • 会议名称：2010 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：典型深亚微米半导体器件的HPM失效模式与机理研究
作者： You, Hailong1|Fan, Juping1, 2|Jia, Xinzhang1|Zhang, Ling1|
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