位置:成果数据库 > 会议 > 会议详情页
the Effect of microstructure on I-V properties in Si/SiO2 film
  • 所属机构名称:西北师范大学
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:硅基微结构掺杂复合氧化物气敏传感器薄膜的研究
同会议论文项目
同项目会议论文