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Transient thermal analysis of active device (FETs) for high-power applications
  • 所属机构名称:上海交通大学
  • 会议名称:IEEE International Microwave Symposium
  • 成果类型:会议
  • 会场:Anaheim
  • 相关项目:片上系统的互连问题与高端IP核研究
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期刊论文 54 会议论文 32 获奖 6 专利 23
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