位置:成果数据库 > 会议 > 会议详情页
Four-probe scanning tunneling microscope system for electrical and electro-optical property of nanos
  • 所属机构名称:中国科学院物理研究所
  • 会议名称:中国物理学会秋季学术会议,
  • 作者或编辑:3448
  • 第一作者单位:中科院物理研究所
  • 语言:英文
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:分子操纵对接碳纳米管的新方法
同会议论文项目
期刊论文 19 会议论文 10
同项目会议论文