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Scanning Tunneling Microscopy Gets Closer Than Ever To The Electronic Structure Of Si(111)- 7?
  • 所属机构名称：中国科学院物理研究所
  • 会议名称：Beijing-TEDA 2004 Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures
  • 作者或编辑：3448
  • 第一作者单位：中科院物理研究所
  • 语言：英文
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：分子操纵对接碳纳米管的新方法
作者： Y.L. Wang|H.M. Guo|H.W. Liu|H.J.Gao|
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