欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
会议
> 会议详情页
Microstructure Large Scale Surface Evaluation Based on White Light Interferometry
所属机构名称:中国民航大学
会议名称:16th International Conference on Mechatronics Technology, ICMT 2012
时间:2012
成果类型:会议
相关项目:基于白光扫描干涉术的超精密表面几何参数大范围快速测量方法
同会议论文项目
基于白光扫描干涉术的超精密表面几何参数大范围快速测量方法
期刊论文 8
会议论文 1
同项目会议论文