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A New Method for Deriving Optical Constants of Solids from Reflection Electron Energy Loss Spectrosc
  • 所属机构名称：中国科学技术大学
  • 会议名称：71st IUVSTA Workshop on Characterisation of Nanostructures by Means of Electron Beam Techniques
  • 时间：2013.6.6
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：金属和半导体纳米结构表面定量分析方法研究
作者： Z.J. Ding|B. Da|S.F. Mao|
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