位置:成果数据库 > 会议 > 会议详情页
整合局部特征和全局统计特性的纹理图像分析
  • 所属机构名称:华南理工大学
  • 会议名称:2009 IEEE International Conference on Image Processing, ICIP 2009
  • 成果类型:会议
  • 会场:开罗
  • 相关项目:双Lipschitz 不变的纹理特征及其应用
同会议论文项目
期刊论文 10 会议论文 3 专利 1
同项目会议论文