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基于局部和全局统计特征的纹理描述
  • 所属机构名称：华南理工大学
  • 会议名称：2009 IEEE Computer Scociety Conference on Computer Vision and Pattern Recognition, CVPR 2009
  • 成果类型：会议
  • 会场：迈阿密
  • 相关项目：双Lipschitz 不变的纹理特征及其应用
作者： 许勇|Cornelia Fermuller|黄嗣彬|纪辉|
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