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Electrical properties of strained Si p-n junctions
  • 所属机构名称：南京大学
  • 会议名称：11th International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology Proceedings (ICSICT)1
  • 时间：2012
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：氢热处理对硅单晶纳米结构形貌控制特征研究
作者： Wangran Wu|Xiangming Xu|Zhe Yuan|Jiabao Sun|Yi Zhao|Yi Shi|
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