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A wear-leveling-aware dynamic stack for PCM memory in embedded systems
  • 所属机构名称:武汉大学
  • 会议名称:17th Design, Automation and Test in Europe, DATE 2014
  • 时间:2014
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:可信软件构造理论与方法研究
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期刊论文 127 会议论文 62 获奖 8 著作 5
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