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Micro SEL Studies in COTS SRAM Devices by Laser Backside Testing
  • 所属机构名称：中国科学院空间科学与应用研究中心
  • 会议名称：11TH EUROPEAN CONFERENCE ON RADIATION AND ITS EFFECTS ON COMPONENTS AND SYSTEMS，2010
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：基于光耦器件的单粒子效应探测仪研究
作者： Feng Guoqiang|Shangguan Shipeng|Mayingqi|Hanjianwei|
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