中文摘要：

本项目在国际上首次开展基于光耦器件的单粒子效应探测新方法研究。以光耦器件为传感器，测量单个高能粒子轰击产生的单粒子瞬态脉冲（SET）模拟信号，能够准确反映微电子器件发生的单粒子效应水平，能够测量一定动态范围的单粒子效应，电路实现更加简单，易于实现探测仪器的微小型化，较传统的基于静态存储器和大尺寸半导体探测器的单粒子效应探测技术有诸多优点。本项目研究光耦器件的SET效应规律，从中筛选确定合适的传感器、制定基本的测量电路方案；设计开发传感器工作电路和SET信号处理电路，研制基本的探测原理系统；采用模拟辐照源试验、调试和改进探测原理系统，最终实现基于光耦器件的单粒子效应探测的创新思想。

结论摘要：

本项目首次开展了基于光耦器件的单粒子效应探测新方法的研究。以光耦器件为传感器，测量单个高能粒子轰击产生的单粒子瞬态脉冲（SET）模拟信号，能够准确反映微电子器件发生的单粒子效应水平，能够测量LET值为10到100 MeV？cm2/mg动态范围内的单粒子效应，电路实现更加简单，易于实现探测仪器的微小型化，较传统的基于静态存储器和大尺寸半导体探测器的单粒子效应探测技术具有较大的优势。 项目研究了光耦器件的SET效应规律，从中筛选确定合适的传感器、制定了基本的测量电路方案；设计开发了传感器工作电路和SET信号处理电路，研制了基本的探测原理系统；采用模拟辐照源试验、调试和改进探测原理系统，最终实现了基于光耦器件的单粒子效应探测的创新思想，达到了预期目标。