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Diagnosis and Layout Aware (DLA) scan chain stitching
  • 所属机构名称：中国科学院计算技术研究所
  • 会议名称：IEEE International Test Conference, ITC'13
  • 时间：2013.9.9
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：面向多个物理缺陷的纳米尺度极大规模数字电路故障诊断
作者： Sam Pan|Yu Huang|Yu HU|Wu-Tung Cheng|Ruifeng Guo|Liyang Lai|Ting-Pu Tai|Xiaowei Li|Weipin Changchien|
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