位置：成果数据库 > 会议 > 会议详情页
SmartInjector: Exploiting Intelligent Fault Injection for SDC Rate Analysis
  • 所属机构名称：中国人民解放军国防科学技术大学
  • 会议名称：26th International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems (DFT 2
  • 时间：2013.10.2
  • 成果类型：会议
  • 相关项目：基于数据差异性的软件抗辐射技术研究
同会议论文项目
基于数据差异性的软件抗辐射技术研究
期刊论文 5 会议论文 12
同项目会议论文
An Instruction-level Fine-grained Recovery Approach for Soft Errors
基于DSP的JPEG2000位平面扫描过程的快速实现
A Low-Cost DSP Fault Tolerance Approach Based On Loop Optimization
一种低开销的可配置容错技术
An Efficient and Fine Grained Error Recovery Algorithm
An Efficient Approach to Detect and Correct Control-flow Errors for the Linear Assembly
利用狭窄数据宽度来屏蔽寄存器文件中的软错误
REE: Exploiting idempotent property of applications for fault detection and recovery
Exploiting Narrow Data-width to Mask Soft Errors in Register Files
CFEDR: Control-Flow Error Detection and Recovery Using Encoded Signatures Monitoring
A Performance-Driven DSP Fault Tolerance Approach