空间环境下高能粒子辐射所产生的单粒子效应是半导体电路中的一种瞬态故障现象,是影响航天计算机可靠性的重要原因。随着集成电路制造工艺的持续进步,处理器性能在大幅度提高的同时,其可信性也正日益面临着单粒子效应的威胁。与硬件加固技术相比,针对单粒子效应的软件容错技术由于在实现成本和灵活性等方面的优势而备受关注。但传统软件容错技术在错误检测能力和错误恢复方面存在不足。本项目将首先研究面向单粒子效应的错误分析模型;在此基础上,研究基于数据差异性和指令复算的错误检测方法,以提高软件容错的检错能力;然后,研究轻量级错误恢复方法和检查点优化策略,以及细粒度错误恢复技术;最后,通过改造GCC编译器实现所提出的软件容错技术。基于软件实现的抗辐射技术,可以构建基于商用器件的高可靠、高性能的空间信息处理平台。本项目的研究可为延长卫星在轨飞行寿命、降低卫星研制成本、提高性能指标奠定技术基础。
英文主题词Single Event Effect;Software Fault Tolerance;Program Analysis;Compiler Optimization;Fault Injection