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基于两级di/dt检测IGBT模块短路策略
  • ISSN号:0258-7998
  • 期刊名称:《电子技术应用》
  • 时间:0
  • 分类:TN386.2[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]西安理工大学自动化与信息工程学院,陕西西安710048, [2]西安工程大学电子信息学院,陕西西安710048
  • 相关基金:国家自然科学基金(51477138); 陕西省教育厅服务地方专项计划项目(15JF026);陕西省教育厅科研计划项目(13JK1105); 陕西省科技统筹创新工程项目(2013KTCQ01-26); 西安工程大学研究生创新基金项目(CX2015005); 陕西省教育厅专项科研计划项目(15JK1306); 西安市产学研协同创新计划项目(CXY1501)
中文摘要:

为了解决传统VCE在检测大功率绝缘栅双极型晶体管(IGBT)模块的短路故障时存在的问题,在分析了IGBT短路特性的基础上,提出了一种基于两级电流变化率(di/dt)检测IGBT两类短路故障的策略。该策略可以使驱动器更早地采取保护措施,限制IGBT的短路电流和短路功耗,减小关断尖峰电压。基于3300 V/1200 A IGBT模块的短路实验结果证明了该策略的有效性和可行性。

英文摘要:

In order to solve the existing problems of the traditional VCEin detecting the short- circuit fault of high power IGBT module, on the basis of analyzing IGBT short- circuit characteristic, a strategy based on two levels di / dt for detecting IGBT two types short- circuit fault is proposed in this paper. It enables the driver to take protective measures much earlier with limiting IGBT short circuit current and short circuit power consumption, reducing spike voltage. The results of short- circuit experiment based on 3300V / 1200A IGBT module prove that the strategy proposed is effective and feasible.

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期刊信息
  • 《电子技术应用》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子信息产业集团有限公司
  • 主办单位:华北计算机系统工程研究所
  • 主编:杨晖
  • 地址:北京市海淀区清华路25号
  • 邮编:100083
  • 邮箱:xinzw@ncse.com.cn
  • 电话:010-66608981 66608982
  • 国际标准刊号:ISSN:0258-7998
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2305/TN
  • 邮发代号:2-889
  • 获奖情况:
  • 国家期刊奖,中文核心期刊奖,中国科技期刊奖,电子精品科技期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:20858