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针对双线性对密码算法的分支故障攻击
  • ISSN号:2095-7025
  • 期刊名称:密码学报
  • 时间:2014.6.15
  • 页码:268-278
  • 分类:TN918.4[电子电信—通信与信息系统;电子电信—信息与通信工程]
  • 作者机构:[1]天津大学计算机科学与技术学院, [2]香港城市大学电子工程系, [3]上海华虹集成电路有限责任公司, [4]上海交通大学计算机科学与工程系
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(61202372);天津市应用基础及前沿技术研究计划重点项目(11JCZDJC1580)
  • 相关项目:密码学中的椭圆曲线理论研究
中文摘要:

由于双线性对在构造密码协议方面的固有优势,它已经被越来越多的国内外学者所关注.近年来,双线性对密码算法在运行速度方面取得了较大的提升,其实用价值被进一步挖掘.针对双线性对加密机制的标准化工作正在展开,双线性对的密码体系标准IEEE P1363.3已在筹备之中,我国也已启动了基于身份的密码体制的标准化工作.为了保证其在实际使用中的安全性,双线性对密码算法的物理安全性也开始成为密码学界研究的重点.目前,针对双线性对密码算法的物理攻击主要有能量分析攻击和故障攻击.本文对双线性对密码算法在故障攻击下的安全性进行了深入地分析和研究,并提出了针对双线性对密码算法主要步骤(即Miller循环)的分支故障攻击方法.这种攻击方法适用于几乎所有含有Miller循环的双线性对密码算法,且具有植入错误方式多样的优点.此外,不论密钥点是P点还是Q点,此攻击方法均可以成功地窃取密钥信息.为了证明此方法的可行性与正确性,本文以基于素域上Barreto-Naehrig曲线的Tate双线性对为例,详细论述了该攻击的实施原理和具体流程.最后,本文从动态和静态两方面分别讨论了植入分支故障的实际方法,并给出了抵抗该故障攻击的多种防御策略.这些防御策略几乎不影响原始算法的运行速度,并且具有低成本的优势.

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期刊信息
  • 《密码学报》
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  • 主办单位:中国密码学会 科学普及出版社(中国科学技术出版社)
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  • 国际标准刊号:ISSN:2095-7025
  • 国内统一刊号:ISSN:10-1195/TN
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