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Distinguishing glide and shuffle types for 60° dislocation in semiconductors by field-emission HREM
  • 期刊名称：Ultramicroscopy.
  • 时间：0
  • 页码：2000,85. 131-139
  • 语言：英文
  • 相关项目：电子晶体学图像处理
作者： D. Wang, F. H. Li and, J. Zou|
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电子晶体学图像处理
期刊论文 9
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