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Amplitude correction in image deconvolution for determining crystal defects at atomic level
  • 期刊名称：Journal of Electron Microscopy
  • 时间：0
  • 页码：2000,49.17-24
  • 语言：英文
  • 相关项目：电子晶体学图像处理
作者： F. H. Li, D. Wang, W. Z. He and H. Jiang|
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电子晶体学图像处理
期刊论文 9
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