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利用AFM探针施加的正偏压提高单个DNA分子的分离效率
  • ISSN号:1000-6281
  • 期刊名称:《电子显微学报》
  • 时间:0
  • 分类:TH742.9[机械工程—光学工程;机械工程—仪器科学与技术;机械工程—精密仪器及机械]
  • 作者机构:[1]中国科学院上海应用物理研究所,物理生物学研究室,上海201800, [2]中国科学院大学,北京100049, [3]上海交通大学,微纳科学技术研究院,上海200240
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(Nos.10975175、90923002、21073222和11079050); 中国科学院知识创新工程重要方向资助项目(No.KJCX2-EW-N03); 德国马普学会对一个伙伴研究小组的资助
中文摘要:

基于原子力显微镜(AFM)的分子操纵技术能通过AFM针尖将云母表面的单个DNA分子分离(拾取),通过单分子PCR和Sanger法测序,可以得到任何感兴趣的单个DNA片段的序列。然而在实际操作中,由于针尖-DNA吸附力不足以克服云母表面-DNA吸附力,衬底表面的DNA分子被分离的成功率往往较低。本文改进了原子力显微镜(AFM)针尖对云母表面单个DNA分子的分离(拾取)方法,通过对导电的AFM针尖施加正偏压,使针尖与负电荷的DNA分子形成较强的静电吸引力。结果表明,在针尖施加偏压后,表面的DNA分子能被高效的分离;而在未施加偏压的情况下,表面的DNA分子容易被针尖"搓揉"成球状的颗粒,但比较难分离。说明该方法能明显提高DNA分子从云母表面的分离效率。此外,被AFM针尖分离的DNA可通过单分子PCR技术成功扩增,说明对AFM探针施加正偏压来分离DNA不会影响其生物活性。

英文摘要:

The atomic force microscope(AFM) can image and manipulate native biological samples on surfaces on the single-molecule level,including cutting,pushing and picking-up.By applying a positive bias to AFM tip,we have developed a new method for DNA isolation(picking-up) from chemically-modified mica surface.The positive bias on the AFM tip produces electrostatic attraction force between the negatively charged DNA molecules and the tip,which increases DNA picking-up efficiency.By single-molecule PCR,the picked-up DNA can be successfully amplified,indicating the DNA molecules keep their biological activities after the manipulation by the biased AFM tip.

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期刊信息
  • 《电子显微学报》
  • 中国科技核心期刊
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  • 主办单位:中国物理学会
  • 主编:张 泽
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  • 国际标准刊号:ISSN:1000-6281
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2295/TN
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  • 曾获《中国科技论文统计源期刊(中国科技核心期刊)》,《中国科学引文数据库(核心库)》来源期刊,中国自然科学核心期刊(无线电电子学、电信技术类...
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),英国科学文摘数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6569