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Growth behavior of voids randomly distributed at grain boundary on thin metal film with bamboo micro
  • ISSN号：0295-5075
  • 期刊名称：EPL
  • 时间：2015.9
  • 页码：-
  • 相关项目：基于智能涂层的飞机结构损伤原位监测研究
作者： Sun, Yang|Liu, Mabao|Lu, Yi|Ren, Xiang|
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