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光学薄膜界面粗糙度互相关特性与光散射
  • ISSN号:0258-7025
  • 期刊名称:《中国激光》
  • 时间:0
  • 分类:O484[理学—固体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]西安工业大学光电工程学院,陕西西安710032, [2]西安电子科技大学理学院,陕西西安710071
  • 相关基金:国家自然科学基金(60371020)资助项目.
中文摘要:

为了研究光学薄膜界面的互相关特性及光散射特性,介绍了光学薄膜的散射理论和模型。依据光学薄膜矢量散射的表达式,借助于总背向散射理论分析了光学薄膜界面互相关特性对光散射的影响,并用实验验证和分析了TiO2单层薄膜膜层厚度,K9玻璃基底粗糙度以及离子束辅助沉积(IBAD)工艺等因素对光学薄膜界面互相关特性的影响。结果表明,根据矢量光散射理论计算的光学薄膜界面互相关特性和光散射的关系与实验测量结果一致。随着基底粗糙度、薄膜光学厚度的增加,薄膜界面的互相关特性会变差,采用离子束辅助沉积的TiO2单层薄膜的膜层界面互相关性明显好于不用离子束辅助沉积的薄膜。

英文摘要:

In order to study cross correlated properties and light scattering of optical thin films interfaces roughness, the theoretical models of optical thin films interfaces roughness light scattering were concisely presented. Furthermore, based on the expression of vectorial scattering of optical films, influence of interfaces roughness crosscorrelated properties on light scattering was analyzed by total backscattering theory. Moreover, effects of TiO2 single optical films thickness, substrate roughness of K9 glass and ion beam assisted deposition (IBAD) technique on interface roughness cross correlated properties were studied by experiments, respectively. The results show that theoretical results obtained by integrating vector light scattering are agreement well with experimental results. With the increase of films thickness and substrates roughness, the interfaces roughness cross-correlated properties decrease. When ion beam assisted deposition is used, a high degree of cross-correlated properties can be observed.

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期刊信息
  • 《中国激光》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国光学学会 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 主编:周炳琨
  • 地址:上海市嘉定区清河路390号
  • 邮编:201800
  • 邮箱:cjl@siom.ac.cn
  • 电话:021-69917051
  • 国际标准刊号:ISSN:0258-7025
  • 国内统一刊号:ISSN:31-1339/TN
  • 邮发代号:4-201
  • 获奖情况:
  • 中国自然科学核心期刊,物理学类核心期刊,无线电子学·电信技术类核心期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:26849