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h-BN薄膜表面PMMA残留去除研究
  • 分类:TN304[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:杭州电子科技大学材料物理研究所,浙江杭州310018
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(61106100);浙江省自然科学基金资助项目(LY16E02008)
中文摘要:

化学气相沉积法(CVD)制备的六方氮化硼薄膜(h-BN)的清洁转移一直备受关注,h-BN从生长基底向其它目标基底转移过程中会引人PMMA残留物,影响h-BN薄膜的性质和应用.为研究PMMA残留物的去除,首先采用低压化学气相淀积法制备了 h-BN 薄膜并转移至基底表面,然后分别采用丙酮溶解、还原热处理、氧化热处理的方法去除h-BN薄膜转移过程中PMMA残留物.研究结果发现,丙酮溶解和还原热处理都不能有效去除PMMA残留,长时间的氧化热处理可以彻底去除PMMA残留.

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