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一种面向单粒子效应的容错自动转换工具
  • ISSN号:2095-2783
  • 期刊名称:《中国科技论文》
  • 时间:0
  • 分类:TP306.3[自动化与计算机技术—计算机系统结构;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 作者机构:国防科学技术大学计算机学院,长沙410073
  • 相关基金:高等学校博士学科点专项科研基金资助项目(20124307120037); 国家自然科学基金资助项目(61202116)
中文摘要:

空间环境下高能粒子辐射所产生的单粒子效应是半导体电路中的1种瞬态故障现象,是影响航天计算机可靠性的重要原因。与硬件加固技术相比,针对单粒子效应的软件容错技术由于在实现成本和灵活性等方面的优势而备受关注。而自动化工具能提高容错加固的效率,拓展软件容错技术的应用范围。本文面向DSP线性汇编程序,设计实现了一种容错自动转换工具AFTCT。AFTCT能够实现程序分析和容错转换功能。同时,该工具能够集成多种容错算法,对新算法具有很好的扩充能力。并且结合JPEG2000程序对转换后代码进行了测试验证。

英文摘要:

Single Event Effects (SEEs) are a kind of transient fault phenomenon in semiconductor circuit, which is caused by the external radiation from the high energy neutrons from cosmic rays, and etc. SEEs are always one of vital reasons for affecting the reliability of space computers. Comparing with the hardware-implemented fault tolerance for SEEs. the software-implemented methods are attractive because of their advantage on costs and flexibility. The automatic tools will improve the efficiency of radiation harden, and extend the applicability of fault tolerance techniques. For the DSP linear assembly programs,this paper presents a fault tolerance automatic conversion tool for SEEs, named AFTCT. AFTCT implements a linear assembly program analysis function and he fault-tolerant conversion function At the same time, the tool can integrate a variety of fault-tolerant algorithm, and have good expansion capability to the new algorithm. Combined with JPEG2000 program to verify the converted code.

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期刊信息
  • 《中国科技论文》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中华人民共和国教育部
  • 主办单位:教育部科技发展中心
  • 主编:李志民
  • 地址:北京市海淀区中关村大街35号教育部科技发展中心
  • 邮编:100080
  • 邮箱:tougao@cutech.edu.cn
  • 电话:010-62514339
  • 国际标准刊号:ISSN:2095-2783
  • 国内统一刊号:ISSN:10-1033/N
  • 邮发代号:2-366
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),波兰哥白尼索引,美国乌利希期刊指南,美国剑桥科学文摘,中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版)
  • 被引量:1297