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用于三维封装的铜-铜低温键合技术进展
  • ISSN号:1001-2028
  • 期刊名称:《电子元件与材料》
  • 分类:TN405.97[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]华中科技大学机械科学与工程学院,湖北武汉430074, [2]武汉光电国家实验室MOEMS研究部,湖北武汉430074
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(No.51275194);材料复合新技术国家重点实验室(武汉理工大学)开放基金资助项目(No.2014-KF-11)
中文摘要:

在三维系统封装技术中,金属热压键合是实现多层芯片堆叠和垂直互连的关键技术。为了解决热压键合产生的高温带来的不利影响,工业界和各大科研机构相继开发出了多种低温键合技术。综述了多种不同的低温金属键合技术(主要是Cu-Cu键合),重点阐述了国内外低温金属键合技术的最新研究进展及成果,并对不同低温金属键合技术的优缺点进行了分析和比较。

英文摘要:

Metal thermo compression bonding approach is the key technology for the realization of multi-chip stacking and vertical interconnection in 3D system packaging. In order to eliminate the adverse impact of high temperature, various low temperature bonding methods are developed by the world-wide companies and research institutes. Different low temperature metal bonding approaches (mainly Cu-Cu bonding) are reviewed and introduced, the latest developments and results are focused on. The merits and drawbacks of various low temperature bonding technologies are analyzed.

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期刊信息
  • 《电子元件与材料》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中华人民共和国工业和信息化部
  • 主办单位:中国电子学会 中国电子元件行业协会 国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
  • 主编:陈 丰
  • 地址:成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
  • 邮编:610051
  • 邮箱:journalecm@163.com
  • 电话:028-84391569
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-2028
  • 国内统一刊号:ISSN:51-1241/TN
  • 邮发代号:62-36
  • 获奖情况:
  • 第二届全国优秀期刊评比二等奖,第二届国家期刊奖...
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:8585