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Influence of the non-singular stress on the crack extension and fatigue life
  • ISSN号：0029-5493
  • 期刊名称：Nuclear Engineering and Design
  • 时间：2012.2.2
  • 页码：293-300
  • 相关项目：芯片封装结构热力性能边界元法研究
作者： 程长征|
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期刊论文 22
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