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Binning Optimization for Transparently-Latched Circuits
  • ISSN号：0278-0070
  • 期刊名称：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Inte
  • 时间：2011.2.2
  • 页码：270-283
  • 相关项目：基于鲁棒控制理论的纳米工艺偏差下的超大规模集成电路性能分析方法研究
作者： Gong, Min|Zhou, Hai|Li, Li|Tao, Jun（陶俊）|Zeng, Xuan（曾璇）|
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