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基于退化与寿命数据融合的产品剩余寿命预测
  • ISSN号:1001-506X
  • 期刊名称:系统工程与电子技术
  • 时间:2011.5.5
  • 页码:1073-1078
  • 分类:TB114.3[理学—概率论与数理统计;理学—数学;理学—应用数学;一般工业技术]
  • 作者机构:[1]国防科学技术大学信息系统与管理学院,湖南长沙410073
  • 相关基金:国家自然科学基金(60701006 60804054 71071158)资助课题
  • 相关项目:基于性能退化的可靠性理论方法研究
中文摘要:

产品的剩余寿命预测是其维修、更换和备件策略制定的重要依据。目前的寿命预测方法一般仅利用产品自身的性能退化数据,当性能退化数据较少时,剩余寿命预测结果精度难以保证。针对性能退化过程为具有随机效果的Wiener过程的产品,对其进行寿命预测时,采用Bayes方法融合产品的历史寿命信息和该产品自身的性能退化信息,得到性能退化参数的Bayes估计,进而得到该产品的剩余寿命分布,从而提高剩余寿命分布的预测精度。金属化膜脉冲电容器剩余寿命预测分析实例表明了该方法的有效性。

英文摘要:

Residual lifetime distribution prediction of products is of great importance in maintenance, replacement and spare parts decision making.The majority of existing methods use only the degradation data of products themselves,so precision of the prediction results is hardly satisfying when the degradation data are few.This paper tackles the problem using a Bayesian method.The degradation data of the products the Wiener process with random effect are modelled.Using the Bayesian method,featuring online degradation data and historical lifetime data are fused to derive the posterior distribution and Bayesian estimates of degradation parameters. Residual lifetime distribution is deduced,thus improving predictive precision.An example,residual lifetime distribution prediction of metallized film pulse capacitors,is presented to show the validity of the proposed method.

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期刊信息
  • 《系统工程与电子技术》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国航天科工集团公司
  • 主办单位:中国航天科工防御技术研究院 中国宇航学会 中国系统工程学会
  • 主编:施荣
  • 地址:北京142信箱32分箱
  • 邮编:100854
  • 邮箱:xtgcydzjs@126.com
  • 电话:010-68388406
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-506X
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2422/TN
  • 邮发代号:82-269
  • 获奖情况:
  • 全国中文核心期刊,全国优秀科技期刊,中国科技论文统计用刊,中国期刊方阵“双百”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 德国数学文摘,荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:34341