采用磁控溅射法,在Si和玻璃基片上制备了AZO(ZnO∶Al)透明导电薄膜。通过X射线衍射仪、紫外/可见光分光光度计、荧光光谱仪和四极探针等仪器,研究了Al质量分数对薄膜的微观结构和光电特性的影响。研究结果表明,AZO薄膜为纤锌矿结构且呈c轴择优取向,随着Al质量分数的增加,(002)衍射峰强度逐渐减弱;在掺Al质量分数小于4%时,薄膜在可见光范围内的平均透射率大于80%,方块电阻最小值达到514Ω/□,热稳定性小于20%;在室温下,观察到近带边发光峰和绿光发光带。