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EPIR effect of Cu2O films by electrochemical deposition
  • ISSN号:1567-1739
  • 期刊名称:Current Applied Physics
  • 时间:2014.9
  • 页码:1282-1286
  • 相关项目:缺陷、深能级陷阱与CaCu3Ti4O12巨介电常数之间的关系
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