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Strain-induced variations of electronic energy band edges of embedded semiconductor quantum dots in
  • ISSN号：0021-8979
  • 期刊名称：Journal of Applied Physics
  • 时间：0
  • 页码：1-4
  • 语言：英文
  • 相关项目：量子线和量子点纳米结构中应变和压电性质分析
作者： Pan, Ernie|Chung, Peter W.|Albrecht, John D.|Zou, Yu|
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